讲座题目：电镜技术的发展现状

主讲人：密歇根大学（University of Michigan）孙凯（Kai Sun）

职称/职务：Associate Research Scientist/博导

地点：开元校区工科1号楼5059

时间：2017年12月6日09:00-10:00

主办单位：科技处、摩擦学与材料防护教育部工程研究中心、材料科学与工程学院

主讲人简介：

孙凯Kai Sun，1969年生，博士，密歇根大学副研究科学家/博导，1994-1998年在中科院北京电子显微镜实验室做助理研究员，1998-2000年在斯德哥尔摩大学（Stockholm University）做Postdoctoral Research Associate，2000-2002年在伊利诺大学芝加哥分校（University of Illinois at Chicago）做Postdoctoral Research Associate，2002-2003年在密歇根大学（University of Michigan）做Research Fellow，2003年至现在，在密歇根大学（University of Michigan）做Associate Research Scientist。学术方向与成就：（1）用先进的电子显微技术表征几乎所有类型材料的显微组织；（2）材料改性:研究几种不同材料在强电子（离子）束照射下的显微组织演变；（3）材料合成: a)在GaAs中合成了第一个Ga-Mn准晶体; b)合成了第一个样板Ge-B-O多微孔材料。发表SCI论文185篇，会议论文37篇。2014-2015年度Kenneth M. Reese杰出研究科学家奖的获得者。

讲座内容提要：

Transmission electron microscope (TEM) has long been the standard for materials scientists to obtain structural information of different materials. During the past decade, great developments have been achieved in TEM. A modern TEM has now reached a level that can be used for performing sub-Angstrom spatial resolution imaging, atomic scale chemical imaging, ultrahigh energy resolution electron energy loss spectroscopy and ultrahigh temporal resolution imaging, diffraction and spectroscopy. In addition, environmental TEM (ETEM) that is a TEM performed in a gaseous, liquid or cryogenics conditions has been a main stream. This talk will try to cover those amazing achievements in TEM.

欢迎老师、同学们踊跃参加！